Este servicio reproduce ciclos termicos constantes o progresivos para evaluar la estabilidad y fiabilidad de dispositivos electrónicos. Los cambios de temperatura modifican la respuesta eléctrica y pueden revelar fallas mecánicas, pérdidas de adhesión, cambios en parámetros de RF o degradación en sensibilidad de sensores.
Configuración del ensayo
La cámara Sun EC01 y el controlador ETS permiten programar un número ilimitado de ciclos con rampas controladas, tiempos de permanencia y límites definidos por el cliente. Cada ciclo puede incluir puntos de medición eléctrica que facilitan la correlación entre temperatura y comportamiento funcional.
Casos comunes de aplicación
• Evaluación de antenas y dispositivos RF en cambios cíclicos.
• Ensayos acelerados de vida para conectores, arneses, cables coaxiales y componentes pasivos.
• Estabilidad de módulos IoT ante variaciones térmicas rápidas.
• Análisis de deriva en sensores capacitivos o resistivos.
• Evaluación de degradación dieléctrica por repetición de dilatación y contracción.
Instrumentación integrada
Durante los ciclos térmicos se pueden monitorear parámetros S, impedancia, capacitancia, resistencia, figura de ruido y emisiones espectrales. Esta integración permite detectar fallas que solo se presentan en condiciones combinadas de temperatura y operación eléctrica.
Normas
IEC 60068-2-38, IEC 60068-2-14, MIL STD 810, JEDEC JESD22 A104 para semiconductores y procesos de calificación industrial.
Entregables
Reporte con estadísticas de ciclos, registros de temperatura, comportamiento eléctrico en cada etapa del ciclo y conclusiones técnicas de durabilidad.
